gamma放射线仪表 物位、界面及密度测量技术资料

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gamma放射线仪表 物位、界面及密度测量技术资料

gamma放射线仪表 物位、界面及密度测量技术资料
文本预览
Level Pressure Flow Temperature Liquid Registration System Services Solutions
Analysis Components
放射线仪表
物位、界面及密度测量
技术资料
TI 001F/28/zh/v2.0目 录
GammapilotMFMG60 一体化变送器 3
放射源 34
QG020/100 源盒 39
QG2000 源盒 50
2Level Pressure Flow Temperature Liquid Registration System Services Solutions
Analysis Components
GammapilotMFMG60 一体化变送器
可用于非接触限位检测、 物位、界面和密度测量;
可用于防爆场合
应用
·液体、固体、悬浮液和污泥等的连续非接触
测量。
·应用于极端测量条件下如 :高压、高温、腐
蚀性、毒性、 易磨损介质。
·各种过程容器,如: 反应罐、高压釜、分离
器、酸罐、混合罐、旋风分离器 、冲天炉。
·可应用于食品行业中 ,无需附加要求或认
证。
·系统集成
—HART
—PROFIBUSPA
—FF 基金会现场总线
特点
·一体化变送器:一台仪表 可完成所有 的测
量任务。
·即使在极端的过程和 环境条件下,也具有最
高的实用性、可靠性和安全性。
·最高的灵敏度和精度,最低的剂量率。
·不同的应用条件下 有多种不同的探测器作为
最佳选择 。
—点探测器
—不同长度 的棒探测器
·Exd,Exe或Exi电流输出,系统集成 简单。
·316L不锈钢外壳 用于恶劣场合
·SIL2符合IEC/EN 61508和WHG认证
·温度补偿功能 ,用于密度测量
·简单的四行文字显示 ,现场菜单操作,提供
中文“ToFTool-FieldToolPackage ”标
准操作程序,操作便捷 ,可进行系统诊断和
编制测量点文件。
TI363F/28/zh
3功能和系统设计
测量原理 放射线测量的原理是基于γ射线在穿透某种材料时其能量会被衰减。放射线测
量可以应用于不同的测量任务。
物位限位探测 ①
γ射源和Gammapilot M 分别安装在 容器相对的两侧,其安装高度就是期望 的限

高度。Gammapilot M 将接受到的辐射强度转换为一个百分数。0%代表射线通路

全畅通,即物位低于限位值。100%代表射线通路完全被覆盖 ,即物位高于限

值。
连续物位测量 ②
γ射源和Gammapilot M 分别安装在容器相对的两侧。Gammapilot M 通过探测接

到的辐射强度计算出物位值(百分比)。对于不同的测量范围,可使用不同长
度的
探测器。同时,多个探测器可以级联。
界面的测量 ③
γ射源和Gammapilot M 分别安装在 容器相对的两侧,安装高度应保证两种液体

可被照射。放射源可以安装在容器内部。Gammapilot M 根据接收到的辐射强度

算出界面位置(百分比)。此值在0%(可能的最低值)到100%(可能的最高
值)
之间。
密度或浓度测量 ④
γ射源和Gammapilot M 分别安装在测量管相对的两侧,Gammapilot M 通过接收

的辐射强度计算出介质的密度或浓度。可自由选择测量单元。
如果连接一个附加的温 度传感器(⑤),Gammapilot M 可以计算出介质的温度
4设备结构 典型的放射线测量系统 由以下几部分组成:
γ放射源
同位素1376C0s或 Co可作为γ 放射源。不同活度的射源应用于不同的场合。
“Applicator ”软件可用于计算所需要的源的活度1。
γ放射源的更多详细信息请参阅 技术资料TI213F 。
源盒
放射源是被密封在源盒中的,源盒只容许射线在某一方向辐射,而在其它所有
方向屏蔽。可提供不同 尺寸不同发射角的源盒。Applicator 软件可用来计算所
需要的源盒1
源盒的更多详细信息请参阅 技术资料
TI264F(QG020/QG100) 和TI346F(QG2000) 。
一体化变送器Gammapilot M
一体化变送器Gammapilot M 包括闪烁 体、光电倍增管和计算电路。射入的射线
使闪烁体内部发 出闪光。光电倍增管将这些闪光转换成电脉冲并放大。通过测
量脉冲率(每秒钟脉 冲的数量)可得到辐射强度。根据标定,脉冲率可被转换
为物位、限位、密度或浓度信号。
Gammapilot M 可提供NaI晶体和不同长度 的塑料闪烁棒。因此,对每种应用场
合都可确保最佳的配置。
Gammapilot M 操作原理:⑴:γ辐射使闪烁体内部发出闪光;⑵:
光电倍增管将闪光转换成电子脉冲并放大;⑶:计算回路通过脉冲
率计算出测量值。
1)可向E+H销售部门索取“Applicator ”光盘。
5信号计算 物位测量
AIGC
Gamma放射性仪表是一种利用伽马射线(通常来源于放射性同位素如60Co或137Cs)进行非接触式物位、界面及密度测量的技术。这种类型的仪表工作原理是通过发射出的伽马射线在穿透被测介质时,部分射线会被吸收或者散射,其强度与介质的性质(如密度、介电常数和光学性质)以及被测量的高度或界面位置有关。 具体来说: - **物位测量**:伽马放射线仪表通过检测穿过不同高度的介质层后剩余射线强度的变化来确定液位或料位的高度。当介质升高时,射线需要穿越更多的物质,导致到达探测器的射线强度减弱。 - **界面测量**:类似地,在两个不同密度的介质分界面处,由于射线的部分反射和折射,探测器接收到的射线强度也会发生变化,从而可以准确地定位界面的位置。 - **密度测量**:通过对特定伽马射线衰减系数的精确计算和测量,结合已知的射线源强度和探测器接收的射线强度,可以推算出被测介质的密度。 因此,"Gamma放射线仪表 物位、界面及密度测量技术资料"通常会详细介绍该类仪表的工作原理、设计参数选取、安装调试方法、误差分析及校准步骤等内容,以及针对不同类型介质的应用实例和案例研究。这份资料对于从事核工业、化工、石油、冶金等领域物位控制和过程监测的专业人员具有重要参考价值。
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gamma放射线仪表 物位、界面及密度测量技术资料
AIGC
Gamma放射性仪表是一种利用伽马射线(通常来源于放射性同位素如60Co或137Cs)进行非接触式物位、界面及密度测量的技术。这种类型的仪表工作原理是通过发射出的伽马射线在穿透被测介质时,部分射线会被吸收或者散射,其强度与介质的性质(如密度、介电常数和光学性质)以及被测量的高度或界面位置有关。 具体来说: - **物位测量**:伽马放射线仪表通过检测穿过不同高度的介质层后剩余射线强度的变化来确定液位或料位的高度。当介质升高时,射线需要穿越更多的物质,导致到达探测器的射线强度减弱。 - **界面测量**:类似地,在两个不同密度的介质分界面处,由于射线的部分反射和折射,探测器接收到的射线强度也会发生变化,从而可以准确地定位界面的位置。 - **密度测量**:通过对特定伽马射线衰减系数的精确计算和测量,结合已知的射线源强度和探测器接收的射线强度,可以推算出被测介质的密度。 因此,"Gamma放射线仪表 物位、界面及密度测量技术资料"通常会详细介绍该类仪表的工作原理、设计参数选取、安装调试方法、误差分析及校准步骤等内容,以及针对不同类型介质的应用实例和案例研究。这份资料对于从事核工业、化工、石油、冶金等领域物位控制和过程监测的专业人员具有重要参考价值。

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